第1章绪论1.1衍射技术发展历史与现状1.2衍射技术应用概述1.2.1粉末照相法1.2.2多晶衍射仪法1.2.3同步辐射技术第2章晶体学基础与X射线运动学衍射原理2.1晶体结构与磁结构2.1.1晶体结构类型2.1.2周期性和点阵空间2.1.3点对称2.1.4点群2.1.5磁结构和磁对称2.2X射线衍射原理2.2.1倒易点阵2.2.2晶体的极射赤面投影2.2.3衍射几何理论2.2.4单个晶胞散射和理想晶体散射2.2.5单个理想小晶体的散射强度2.2.6多晶体衍射2.3X射线衍射系统消光规律2.3.1晶体结构的消光规律2.3.2系统消光与点阵类型和对称性关系2.3.3衍射指数指标化第3章现代X射线衍射仪测试原理3.1射线源3.1.1普通X射线源3.1.2同步辐射光源3.2测角仪3.2.1测角仪结构及布拉格.布伦塔诺聚焦原理3.2.2狭缝系统及几何光学3.2.3测角仪的调整3.3探测器3.3.1正比计数器3.3.2位置灵敏计数器3.3.3平面位敏计数器3.3.4闪烁计数器3.3.5Si(Li)半导体固态探测器3.3.6前置放大器和主放大器及脉冲成形器3.3.7单道脉冲分析器3.3.8多道脉冲分析器3.3.9定标器3.3.10速率计（计数率计）3.3.11探测器扫测方式及参数3.3.12X射线衍射能量色散测量3.4单色器3.4.1单色器的原理3.4.2晶体单色器的作用3.4.3石墨晶体单色器3.5滤色片3.6发散狭缝与接收狭缝3.7衍射光路第4章X射线衍射仪测量方法与分析技术4.1样品制备4.1.1粉末粒度要求4.1.2样品试片平面的准备4.1.3样品试片的厚度4.1.4样品制备要求4.1.5制样技巧4.2参数选择方法4.2.1衍射参数4.2.2衍射参数选择4.3数据采集4.3.1软件设置4.3.2数据格式4.3.3误差分析4.4软件操作与应用4.4.1X射线衍射的一般实验过程4.4.2Bruker D8 Advance系列详细参数指标4.4.3粉末衍射仪操作步骤第5章X射线衍射谱线分析与应用5.1X射线衍射宽化效应5.1.1晶粒度引起的宽化效应5.1.2微观应力（应变）引起的宽化效应5.1.3堆垛层错引起的宽化效应5.2微晶.微应力两重宽化效应的分离5.2.1近似函数法和最小二乘方法5.2.2方差分解法5.2.3傅里叶级数分离法5.3晶粒尺寸及统计分布5.4应用实例5.4.1纳米NiO的微结构分析5.4.2六方β.Ni(OH)2中的微结构5.5实验指导：微观应力与亚晶尺寸的测量5.5.1实验目的5.5.2实验原理5.5.3实验方法与实例第6章X射线衍射物相分析6.1定性分析6.1.1物相定性分析的理论基础6.1.2粉末衍射卡（PDF）6.1.3粉末衍射卡索引6.1.4定性分析的方法及步骤6.2定量分析6.2.1理论基础6.2.2分析方法6.2.3存在的问题6.3实验指导：物相定性分析和定量分析6.3.1物相定性分析6.3.2物相定量分析第7章晶体点阵常数精确测定7.1基本原理7.2初始点阵参数的获得7.3点阵常数测定误差来源7.3.1德拜法中的系统误差7.3.2衍射仪中的系统误差7.4精确测定点阵常数的方法7.4.1定峰方法7.4.2图解外推法7.4.3最小二乘方法7.4.4标准样校正法7.5点阵常数精确测定7.5.1测角仪固有误差7.5.2测角仪零位面的调整误差7.5.3试样表面偏轴误差7.5.4试样平面性误差，光束水平与轴向发散误差7.5.5试样透明度误差7.5.6测量记录线路滞后、波动导致的误差7.5.7波长非单色化及色散的影响7.5.8波长数值的影响7.5.9罗伦兹.偏振因子影响7.5.10温度误差7.5.11折射误差7.5.12其他误差7.6实际应用7.6.1合金固溶体中溶质元素固溶极限的测定7.6.2钢中马氏体和奥氏体的碳含量测定7.6.3单晶样品点阵常数的测定7.7实验指导：点阵常数的精确测量7.7.1实验目的7.7.2实验原理7.7.3实验方法与实例第8章宏观内应力测定8.1基本原理8.1.1应力的分类及其X射线衍射效应8.1.2单轴应力测定的原理和方法8.1.3平面宏观应力的测定原理8.2测定与数据处理方法8.2.1平面宏观应力的测定方法8.2.2应力测定的数据处理方法8.2.3三维应力及薄膜应力测量8.3实验指导：宏观内应力（表面残余应力）的测量8.3.1实验目的8.3.2实验原理8.3.3实验方法与实例第9章织构测定9.1织构分类与表征9.1.1织构的分类9.1.2织构的表征方法9.2极图与反极图的测定分析9.2.1极图的测定分析9.2.2反极图的测定分析9.3取向分布函数9.4实验指导：织构的测定9.4.1实验目的9.4.2实验原理9.4.3实验方法与实例第10章Rietveld结构精修10.1发展历程10.2基本原理10.2.1峰位计算10.2.2结构因子和强度分布10.2.3整体衍射谱计算10.2.4最小二乘法拟合10.2.5拟合误差判别10.3测试方法10.4分析应用10.4.1从头计算晶体结构10.4.2X射线物相分析10.4.3测定晶粒大小和微应变附录附录1常用射线管K系辐射波长以及相关工作参数附录2质量吸收系数（μm=μl/ρ）(单位为cm2/g)附录3原子散射因子（Cromer解析式）附录4德拜温度Θ附录5德拜函数［(.(x)/x+1/4］参考文献